介電強(qiáng)度測試的影響因素
點(diǎn)擊次數(shù)：2011 更新時間：2013-10-18
電壓波形及電壓作用時間影響。材料在電場作用下，初始時單位時間內(nèi)材料內(nèi)部產(chǎn)生的熱量大于介質(zhì)散發(fā)出去的熱量，進(jìn)而介質(zhì)溫度升高，溫度的升高是一個由快轉(zhuǎn)滿的，若升壓速度較慢zui后發(fā)生材料擊穿熱擊穿的成分較大。作用時間的影響多因熱量積累而使擊穿電壓值隨電壓作用增加而下降，處于熱擊穿形式的試樣，基本上隨升壓速度的提高擊穿強(qiáng)度也增大。因此，一般規(guī)定試樣擊穿電壓低于20kv時升壓速度為1.0kv/s；大于或等于20kv時升壓速度為2.0kv/s。
電極倒角的影響：電極邊緣處電場強(qiáng)度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于內(nèi)部，但邊緣效應(yīng)極難消除。為避免電極邊緣成一直角，需采用一定倒角r。國家標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定r=2.50mm。
標(biāo)簽：介電強(qiáng)度測試，擊穿測試，電壓擊穿
